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测试控制电路及方法、可测试性设计芯片、电子设备
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311486000.2
申请日：
2023-11-08
公开(公告)号：
CN117761518A
公开(公告)日：
2024-03-26
发明(设计)人：
刘东
熊立双
申请人：
成都艾为微电子科技有限公司
申请人地址：
610041 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天华一路99号6栋5层2号
IPC主分类号：
G01R31/317
IPC分类号：
G01R31/3185
代理机构：
深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651
代理人：
汤金燕
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-03-26 | 公开 | 公开 |
| 2024-04-12 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/317申请日:20231108 |