学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
离子选择性电极及电解质浓度测定装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202080021723.3
申请日
:
2020-02-26
公开(公告)号
:
CN113677986B
公开(公告)日
:
2024-04-26
发明(设计)人
:
渡部祥人
岸冈淳史
山本遇哲
三宅雅文
申请人
:
株式会社日立高新技术
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01N27/333
IPC分类号
:
代理机构
:
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
:
金鲜英;陈彦
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-26
授权
授权
共 50 条
[1]
离子选择性电极及电解质浓度测定装置
[P].
渡部祥人
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
渡部祥人
;
岸冈淳史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
岸冈淳史
;
山本遇哲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
山本遇哲
;
三宅雅文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
三宅雅文
.
中国专利
:CN113677986A
,2021-11-19
[2]
离子选择性电极和电解质浓度测定装置
[P].
岸冈淳史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
岸冈淳史
;
小野哲义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
小野哲义
.
日本专利
:CN120019271A
,2025-05-16
[3]
离子选择性电极以及电解质浓度测定装置
[P].
岸冈淳史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
岸冈淳史
;
石毛悠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石毛悠
;
小野哲义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小野哲义
.
中国专利
:CN109781824B
,2019-05-21
[4]
电解质浓度测定装置、电解质浓度测定方法
[P].
岸冈淳史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
岸冈淳史
;
小野哲义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小野哲义
.
中国专利
:CN112666234A
,2021-04-16
[5]
电解质浓度测定装置、电解质浓度测定方法
[P].
岸冈淳史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
岸冈淳史
;
小野哲义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
小野哲义
.
日本专利
:CN112666234B
,2024-04-19
[6]
电解质测定用结构及使用其的流动型离子选择性电极以及电解质测定装置
[P].
山川市朗
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
山川市朗
;
折桥希绘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
折桥希绘
;
中土裕树
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
中土裕树
;
吉田勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
吉田勇
;
三宅雅文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
三宅雅文
.
日本专利
:CN117546014A
,2024-02-09
[7]
流动型离子选择性电极、采用该电极的电解质浓度测定装置以及生化自动分析装置
[P].
岸冈淳史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
岸冈淳史
;
石毛悠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石毛悠
;
小野哲义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小野哲义
.
中国专利
:CN105829875B
,2016-08-03
[8]
电解质浓度测定装置
[P].
岸冈淳史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
岸冈淳史
;
三宅雅文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
三宅雅文
.
中国专利
:CN115087864A
,2022-09-20
[9]
电解质浓度测定装置
[P].
岸冈淳史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
岸冈淳史
;
三宅雅文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
三宅雅文
.
日本专利
:CN115087864B
,2024-07-05
[10]
电解质浓度测定装置
[P].
岸冈淳史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
岸冈淳史
;
小野哲义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小野哲义
.
中国专利
:CN109416338A
,2019-03-01
←
1
2
3
4
5
→