测试系统、测试方法、存储介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311411572.4

申请日：

2023-10-27

公开(公告)号：

CN117478868A

公开(公告)日：

2024-01-30

发明(设计)人：

姜帅钱海斌

申请人：

纵目科技（厦门）有限公司

申请人地址：

361000 福建省厦门市软件园三期诚毅大街339号20层04单元

IPC主分类号：

H04N17/00

IPC分类号：

H05K7/02

代理机构：

上海光华专利事务所(普通合伙) 31219

代理人：

王国祥

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

福建省厦门市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H04N 17/00申请日:20231027
2024-01-30	公开	公开

共 50 条

[1]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

万志强 .

中国专利 :CN119739618A ,2025-04-01

[2]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

陈昊 ;

郑明成 ;

贾占杰 .

中国专利 :CN118012381A ,2024-05-10

[3]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN120723627A ,2025-09-30

[4]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

陈弈星 ;

胡健 .

中国专利 :CN113359331B ,2021-09-07

[5]

DIE测试方法、测试系统、电子设备及存储介质 [P].

谢登煌 .

中国专利 :CN120233213A ,2025-07-01

[6]

测试方法、测试系统、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙宏超 ;

任东锋 ;

赵小庆 .

中国专利 :CN120104463A ,2025-06-06

[7]

测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

余家奎 ;

芦辉 ;

占翔林 ;

李方鹏 ;

柯军 .

中国专利 :CN112783788A ,2021-05-11

[8]

测试方法和测试系统、电子设备、存储介质 [P].

黄雅楠 ;

张翔 ;

刘华洲 ;

许雷 .

中国专利 :CN115061907A ,2022-09-16

[9]

测试方法、测试系统、电子设备以及存储介质 [P].

王彬 .

中国专利 :CN117723323A ,2024-03-19

[10]

图像测试系统、图像测试方法、电子设备和存储介质 [P].

马美雪 ;

范宇 ;

钟俊宇 ;

胡金耀 .

中国专利 :CN115423878A ,2022-12-02

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