测试系统、测试方法、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311264931.8

申请日：

2023-09-27

公开(公告)号：

CN119739618A

公开(公告)日：

2025-04-01

发明(设计)人：

万志强

申请人：

北京小米移动软件有限公司

申请人地址：

100085 北京市海淀区西二旗中路33号院6号楼8层018号

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

G06F11/30 G06F18/213 G06F18/24 G06N3/04 G06N3/088

代理机构：

北京善任知识产权代理有限公司 11650

代理人：

王静;孟桂超

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-01	公开	公开
2025-04-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20230927

共 50 条

[1]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

陈昊 ;

郑明成 ;

贾占杰 .

中国专利 :CN118012381A ,2024-05-10

[2]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN120723627A ,2025-09-30

[3]

测试系统、测试方法、存储介质及电子设备 [P].

姜帅 ;

钱海斌 .

中国专利 :CN117478868A ,2024-01-30

[4]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

陈弈星 ;

胡健 .

中国专利 :CN113359331B ,2021-09-07

[5]

DIE测试方法、测试系统、电子设备及存储介质 [P].

谢登煌 .

中国专利 :CN120233213A ,2025-07-01

[6]

测试方法、测试系统、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙宏超 ;

任东锋 ;

赵小庆 .

中国专利 :CN120104463A ,2025-06-06

[7]

测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

余家奎 ;

芦辉 ;

占翔林 ;

李方鹏 ;

柯军 .

中国专利 :CN112783788A ,2021-05-11

[8]

测试方法和测试系统、电子设备、存储介质 [P].

黄雅楠 ;

张翔 ;

刘华洲 ;

许雷 .

中国专利 :CN115061907A ,2022-09-16

[9]

测试方法、测试系统、电子设备以及存储介质 [P].

王彬 .

中国专利 :CN117723323A ,2024-03-19

[10]

对象测试方法、测试系统、电子设备及可读存储介质 [P].

刘成科 ;

郑彩平 ;

张娇昱 ;

宋弘毅 .

中国专利 :CN112988604B ,2024-04-02

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