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推测系统以及推测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010783376.X
申请日
:
2020-08-06
公开(公告)号
:
CN112824920B
公开(公告)日
:
2024-05-10
发明(设计)人
:
杉野良树
中村公人
石川将成
申请人
:
丰田自动车株式会社
申请人地址
:
日本爱知县
IPC主分类号
:
G01R31/3842
IPC分类号
:
G01R31/36
G01R31/367
代理机构
:
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
:
张丽
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-05-10
授权
授权
共 50 条
[1]
推测系统以及推测方法
[P].
杉野良树
论文数:
0
引用数:
0
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0
杉野良树
;
中村公人
论文数:
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0
中村公人
;
石川将成
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0
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石川将成
.
中国专利
:CN112824920A
,2021-05-21
[2]
要推测区域推测系统、要推测区域推测程序以及要推测区域推测方法
[P].
川上主马
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
柯尼卡美能达株式会社
柯尼卡美能达株式会社
川上主马
.
日本专利
:CN118339580A
,2024-07-12
[3]
情绪推测装置、情绪推测系统以及情绪推测方法
[P].
冈本利彰
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机构:
株式会社爱世克私
株式会社爱世克私
冈本利彰
;
草野拳
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机构:
株式会社爱世克私
株式会社爱世克私
草野拳
;
山县俊亮
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0
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机构:
株式会社爱世克私
株式会社爱世克私
山县俊亮
;
市川将
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0
机构:
株式会社爱世克私
株式会社爱世克私
市川将
;
阿部悟
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0
机构:
株式会社爱世克私
株式会社爱世克私
阿部悟
.
日本专利
:CN117617970A
,2024-03-01
[4]
姿势推测装置、姿势推测系统以及姿势推测方法
[P].
冈本利彰
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机构:
株式会社爱世克私
株式会社爱世克私
冈本利彰
;
阿部悟
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机构:
株式会社爱世克私
株式会社爱世克私
阿部悟
;
山县俊亮
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机构:
株式会社爱世克私
株式会社爱世克私
山县俊亮
;
阪口正律
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机构:
株式会社爱世克私
株式会社爱世克私
阪口正律
.
日本专利
:CN118986329A
,2024-11-22
[5]
推测方法、推测程序、推测装置及推测系统
[P].
光吉俊二
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0
光吉俊二
;
筱原修二
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0
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0
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0
筱原修二
.
中国专利
:CN108601567A
,2018-09-28
[6]
推测装置、推测系统、推测程序及推测方法
[P].
和田敏
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机构:
栗田工业株式会社
栗田工业株式会社
和田敏
;
森田亮平
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机构:
栗田工业株式会社
栗田工业株式会社
森田亮平
.
日本专利
:CN119053745A
,2024-11-29
[7]
状态推测装置以及状态推测方法
[P].
濑岛贤一
论文数:
0
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0
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0
濑岛贤一
.
中国专利
:CN104101840B
,2014-10-15
[8]
疲劳推测系统、推测装置及疲劳推测方法
[P].
桥本一辉
论文数:
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0
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桥本一辉
.
中国专利
:CN114760921A
,2022-07-15
[9]
延迟推测装置、延迟推测方法、延迟推测系统
[P].
岛田惇哉
论文数:
0
引用数:
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机构:
三菱电机株式会社
三菱电机株式会社
岛田惇哉
.
日本专利
:CN119968621A
,2025-05-09
[10]
推测方法、推测系统和程序
[P].
谷川理佐子
论文数:
0
引用数:
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机构:
松下电器(美国)知识产权公司
松下电器(美国)知识产权公司
谷川理佐子
;
石井育规
论文数:
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机构:
松下电器(美国)知识产权公司
松下电器(美国)知识产权公司
石井育规
;
小塚和纪
论文数:
0
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机构:
松下电器(美国)知识产权公司
松下电器(美国)知识产权公司
小塚和纪
.
美国专利
:CN118251615A
,2024-06-25
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