推测装置、推测系统、推测程序及推测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202380034477.9
申请日
2023-02-06
公开(公告)号
CN119053745A
公开(公告)日
2024-11-29
发明(设计)人
和田敏 森田亮平
申请人
栗田工业株式会社
申请人地址
日本
IPC主分类号
D21C9/08
IPC分类号
D21F7/00 D21H21/02
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
刘新宇;李靖
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
推测方法、推测程序、推测装置及推测系统 [P]. 
光吉俊二 ;
筱原修二 .
中国专利 :CN108601567A ,2018-09-28
[2]
要推测区域推测系统、要推测区域推测程序以及要推测区域推测方法 [P]. 
川上主马 .
日本专利 :CN118339580A ,2024-07-12
[3]
推测方法、推测系统和程序 [P]. 
谷川理佐子 ;
石井育规 ;
小塚和纪 .
美国专利 :CN118251615A ,2024-06-25
[4]
疲劳推测系统、推测装置及疲劳推测方法 [P]. 
桥本一辉 .
中国专利 :CN114760921A ,2022-07-15
[5]
疲劳推测系统、疲劳推测方法及程序 [P]. 
桥本一辉 .
中国专利 :CN115551411A ,2022-12-30
[6]
疲劳推测系统、疲劳推测方法及程序 [P]. 
桥本一辉 .
中国专利 :CN115426951A ,2022-12-02
[7]
延迟推测装置、延迟推测方法、延迟推测系统 [P]. 
岛田惇哉 .
日本专利 :CN119968621A ,2025-05-09
[8]
推测系统以及推测方法 [P]. 
杉野良树 ;
中村公人 ;
石川将成 .
中国专利 :CN112824920A ,2021-05-21
[9]
推测系统以及推测方法 [P]. 
杉野良树 ;
中村公人 ;
石川将成 .
日本专利 :CN112824920B ,2024-05-10
[10]
原因推测装置、原因推测系统和程序 [P]. 
樱井祐市 ;
西纳修一 ;
田代和幸 .
中国专利 :CN114077896A ,2022-02-22