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推测装置、推测系统、推测程序及推测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202380034477.9
申请日
:
2023-02-06
公开(公告)号
:
CN119053745A
公开(公告)日
:
2024-11-29
发明(设计)人
:
和田敏
森田亮平
申请人
:
栗田工业株式会社
申请人地址
:
日本
IPC主分类号
:
D21C9/08
IPC分类号
:
D21F7/00
D21H21/02
代理机构
:
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
:
刘新宇;李靖
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-17
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):D21C 9/08申请日:20230206
2024-11-29
公开
公开
共 50 条
[1]
推测方法、推测程序、推测装置及推测系统
[P].
光吉俊二
论文数:
0
引用数:
0
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0
光吉俊二
;
筱原修二
论文数:
0
引用数:
0
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0
筱原修二
.
中国专利
:CN108601567A
,2018-09-28
[2]
要推测区域推测系统、要推测区域推测程序以及要推测区域推测方法
[P].
川上主马
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
柯尼卡美能达株式会社
柯尼卡美能达株式会社
川上主马
.
日本专利
:CN118339580A
,2024-07-12
[3]
推测方法、推测系统和程序
[P].
谷川理佐子
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
松下电器(美国)知识产权公司
松下电器(美国)知识产权公司
谷川理佐子
;
石井育规
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
松下电器(美国)知识产权公司
松下电器(美国)知识产权公司
石井育规
;
小塚和纪
论文数:
0
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0
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0
机构:
松下电器(美国)知识产权公司
松下电器(美国)知识产权公司
小塚和纪
.
美国专利
:CN118251615A
,2024-06-25
[4]
疲劳推测系统、推测装置及疲劳推测方法
[P].
桥本一辉
论文数:
0
引用数:
0
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0
桥本一辉
.
中国专利
:CN114760921A
,2022-07-15
[5]
疲劳推测系统、疲劳推测方法及程序
[P].
桥本一辉
论文数:
0
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0
桥本一辉
.
中国专利
:CN115551411A
,2022-12-30
[6]
疲劳推测系统、疲劳推测方法及程序
[P].
桥本一辉
论文数:
0
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0
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0
桥本一辉
.
中国专利
:CN115426951A
,2022-12-02
[7]
延迟推测装置、延迟推测方法、延迟推测系统
[P].
岛田惇哉
论文数:
0
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机构:
三菱电机株式会社
三菱电机株式会社
岛田惇哉
.
日本专利
:CN119968621A
,2025-05-09
[8]
推测系统以及推测方法
[P].
杉野良树
论文数:
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杉野良树
;
中村公人
论文数:
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中村公人
;
石川将成
论文数:
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0
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0
石川将成
.
中国专利
:CN112824920A
,2021-05-21
[9]
推测系统以及推测方法
[P].
杉野良树
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
丰田自动车株式会社
丰田自动车株式会社
杉野良树
;
中村公人
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机构:
丰田自动车株式会社
丰田自动车株式会社
中村公人
;
石川将成
论文数:
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机构:
丰田自动车株式会社
丰田自动车株式会社
石川将成
.
日本专利
:CN112824920B
,2024-05-10
[10]
原因推测装置、原因推测系统和程序
[P].
樱井祐市
论文数:
0
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樱井祐市
;
西纳修一
论文数:
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西纳修一
;
田代和幸
论文数:
0
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0
田代和幸
.
中国专利
:CN114077896A
,2022-02-22
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