共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种基于协同注意力的芯片管壳缺陷检测方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311299930.7
申请日：
2023-10-09
公开(公告)号：
CN117372355A
公开(公告)日：
2024-01-09
发明(设计)人：
祝鲁宁
王卫军
王兆广
何春来
申请人：
上海微电机研究所（中国电子科技集团公司第二十一研究所）
申请人地址：
200233 上海市徐汇区虹漕路30号
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06V10/774
G06V10/82
G06V10/764
代理机构：
北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387
代理人：
刘红彬;刘春成
法律状态：
公开
国省代码：
上海市
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-01-09 | 公开 | 公开 |
| 2024-01-26 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231009 |