一种半导体测量模块、半导体测量系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410075359.9

申请日：

2024-01-18

公开(公告)号：

CN117968526A

公开(公告)日：

2024-05-03

发明(设计)人：

孙启盟宋毅倪闻涛

申请人：

武汉大学

申请人地址：

430072 湖北省武汉市武昌区八一路299号

IPC主分类号：

G01B11/00

IPC分类号：

G01B11/24 G01N25/00 G01N25/20 G01J5/00 G01J5/02 G01J5/48

代理机构：

武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222

代理人：

胡琦旖

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

湖北省武汉市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/00申请日:20240118
2024-05-03	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体测量系统及半导体测量方法 [P].

邵加强 ;

李波 ;

王猛 ;

周子恺 .

中国专利 :CN119959269B ,2025-07-01

[2]

半导体测量系统及半导体测量方法 [P].

邵加强 ;

李波 ;

王猛 ;

周子恺 .

中国专利 :CN119959269A ,2025-05-09

[3]

半导体测量装置及半导体测量方法 [P].

山田惠三 ;

高荣旭 .

中国专利 :CN101356635B ,2009-01-28

[4]

半导体测量电路、驱动装置及半导体测量系统 [P].

刘子豪 ;

孙俊华 ;

郭彦锋 .

中国专利 :CN223092078U ,2025-07-11

[5]

半导体测量设备及半导体工艺系统 [P].

周俊涛 ;

叶薇薇 .

中国专利 :CN119324162A ,2025-01-17

[6]

半导体测量设备及半导体工艺系统 [P].

周俊涛 ;

叶薇薇 .

中国专利 :CN119324163A ,2025-01-17

[7]

半导体模块系统、半导体模块及制造半导体模块的方法 [P].

奥拉夫·基尔施 ;

蒂洛·斯托尔泽 .

中国专利 :CN102810531B ,2012-12-05

[8]

半导体测量设备 [P].

金真用 ;

日高康弘 ;

金郁来 ;

金仁基 ;

金镇夑 .

韩国专利 :CN118548797A ,2024-08-27

[9]

半导体测量设备 [P].

李虎准 ;

成长云 ;

金郁来 ;

金亨珍 ;

朴升凡 ;

申俊呼 ;

李明俊 .

韩国专利 :CN119170514A ,2024-12-20

[10]

一种半导体模块及半导体模块系统 [P].

严允健 ;

苏宇泉 .

中国专利 :CN216852753U ,2022-06-28

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