一种X射线吸收谱测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711389552.6

申请日：

2017-12-21

公开(公告)号：

CN107941836B

公开(公告)日：

2024-04-09

发明(设计)人：

刘涛唐跃强黄翀

申请人：

长沙新材料产业研究院有限公司

申请人地址：

410205 湖南省长沙市岳麓区麓谷企业广场B8栋7楼

IPC主分类号：

G01N23/223

IPC分类号：

代理机构：

长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113

代理人：

郭立中

法律状态：

授权

国省代码：

湖南省长沙市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-09	授权	授权

共 50 条

[1]

一种X射线吸收谱测量装置及测量方法 [P].

刘涛 ;

唐跃强 ;

黄翀 .

中国专利 :CN107941836A ,2018-04-20

[2]

一种X射线吸收谱测量装置 [P].

刘涛 ;

唐跃强 ;

黄翀 .

中国专利 :CN207586148U ,2018-07-06

[3]

一种表面X射线吸收谱测量装置 [P].

侯华明 ;

周雄 ;

温晓东 ;

杨勇 ;

李永旺 .

中国专利 :CN113218975A ,2021-08-06

[4]

原位时间分辨X射线吸收谱的测量装置和测量方法 [P].

邵建达 ;

刘世杰 ;

王圣浩 .

中国专利 :CN107219241B ,2017-09-29

[5]

一种原位X-射线吸收谱测量系统及测量方法 [P].

张静 ;

刘聚哲 ;

章红宇 ;

殷子 ;

储胜启 ;

安鹏飞 ;

黄换 ;

郭林 .

中国专利 :CN113376188A ,2021-09-10

[6]

一种X射线吸收谱测量系统 [P].

侯华明 ;

周雄 ;

温晓东 ;

杨勇 ;

李永旺 .

中国专利 :CN113218974A ,2021-08-06

[7]

一种多通道X射线光机能谱测量系统及测量方法 [P].

张庆贤 ;

李孝则 ;

熊盛青 ;

高飞 ;

张建 ;

程志强 ;

葛良全 ;

徐阳 ;

倪宁 .

中国专利 :CN110988968B ,2020-04-10

[8]

X射线相干测量装置及测量方法 [P].

李宾 ;

兰太和 ;

张文艳 ;

李卓 ;

王月 ;

冯冽 ;

王兴涛 ;

刘波 ;

蒋志强 ;

陈家华 ;

王东 ;

李钦明 ;

张未卿 .

中国专利 :CN108663702B ,2018-10-16

[9]

一种基于X射线的珍珠层厚度测量装置及测量方法 [P].

赵彦牧 .

中国专利 :CN111649704B ,2025-07-01

[10]

一种基于X射线的珍珠层厚度测量装置及测量方法 [P].

赵彦牧 .

中国专利 :CN111649704A ,2020-09-11

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