一种基于X射线的珍珠层厚度测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010573340.9

申请日：

2020-06-22

公开(公告)号：

CN111649704A

公开(公告)日：

2020-09-11

发明(设计)人：

赵彦牧

申请人：

申请人地址：

200070 上海市静安区共和新路912号7楼701A室(集中登记地)

IPC主分类号：

G01B1502

IPC分类号：

G01N2304 G01N23083

代理机构：

上海科盛知识产权代理有限公司 31225

代理人：

翁惠瑜

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-11	公开	公开
2020-10-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 15/02 申请日:20200622

共 50 条

[1]

一种基于X射线的珍珠层厚度测量装置及测量方法 [P].

赵彦牧 .

中国专利 :CN111649704B ,2025-07-01

[2]

一种基于X射线的珍珠层厚度测量装置 [P].

赵彦牧 .

中国专利 :CN212432076U ,2021-01-29

[3]

一种X射线吸收谱测量装置及测量方法 [P].

刘涛 ;

唐跃强 ;

黄翀 .

中国专利 :CN107941836A ,2018-04-20

[4]

一种X射线吸收谱测量装置及测量方法 [P].

刘涛 ;

唐跃强 ;

黄翀 .

中国专利 :CN107941836B ,2024-04-09

[5]

基于X射线的在线面密度测量方法及装置 [P].

彭智 ;

严上奇 ;

彭建 ;

严循东 .

中国专利 :CN115372200A ,2022-11-22

[6]

一种X射线灰分测量装置及方法 [P].

邸生才 .

中国专利 :CN102269718A ,2011-12-07

[7]

X射线相干测量装置及测量方法 [P].

李宾 ;

兰太和 ;

张文艳 ;

李卓 ;

王月 ;

冯冽 ;

王兴涛 ;

刘波 ;

蒋志强 ;

陈家华 ;

王东 ;

李钦明 ;

张未卿 .

中国专利 :CN108663702B ,2018-10-16

[8]

X射线煤热值、灰分、水分、炭测量仪及其测量方法 [P].

邸生才 .

中国专利 :CN112557426A ,2021-03-26

[9]

一种薄膜层厚度测量方法及测量装置 [P].

戴丹蕾 ;

相宇阳 ;

俞胜武 .

中国专利 :CN118794359A ,2024-10-18

[10]

一种X射线管焦点尺寸的测量装置及测量方法 [P].

袁钰函 ;

方志强 ;

张楠 .

中国专利 :CN113587862A ,2021-11-02

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