一种薄膜层厚度测量方法及测量装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411288540.4
申请日
2024-09-14
公开(公告)号
CN118794359A
公开(公告)日
2024-10-18
发明(设计)人
戴丹蕾 相宇阳 俞胜武
申请人
无锡卓海科技股份有限公司
申请人地址
214028 江苏省无锡市新吴区珠江路97号
IPC主分类号
G01B11/06
IPC分类号
H01L21/66
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
蔡舒野
法律状态
实质审查的生效
国省代码
江苏省 无锡市
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共 50 条
[1]
膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置 [P]. 
刘公才 .
中国专利 :CN108981624A ,2018-12-11
[2]
厚度测量装置及测量方法 [P]. 
郭志鑫 ;
陈华 ;
李未 ;
陈新喜 ;
沈健 ;
王欣 ;
何建军 ;
何超 ;
黄国翃 ;
支霄翔 ;
余林峰 ;
许浒 .
中国专利 :CN103940327A ,2014-07-23
[3]
混凝土浮浆层厚度测量装置及测量方法 [P]. 
赵天奇 ;
徐俊鹏 ;
秦娟 .
中国专利 :CN120274614A ,2025-07-08
[4]
厚度测量装置及厚度测量方法 [P]. 
丰田一贵 ;
泽村义巳 .
日本专利 :CN114325734B ,2025-02-25
[5]
厚度测量装置及厚度测量方法 [P]. 
D·克雷坦 .
中国专利 :CN104619264A ,2015-05-13
[6]
厚度测量装置及厚度测量方法 [P]. 
丰田一贵 ;
泽村义巳 .
中国专利 :CN114325734A ,2022-04-12
[7]
厚度测量装置及厚度测量方法 [P]. 
丰田一贵 ;
泽村义巳 .
中国专利 :CN107037437B ,2017-08-11
[8]
薄膜层厚度的测量方法 [P]. 
张硕 ;
周璐 .
中国专利 :CN112697080A ,2021-04-23
[9]
薄膜厚度测量装置和薄膜厚度测量方法 [P]. 
张原赫 ;
李洙莲 ;
李孝善 ;
咸守娥 .
韩国专利 :CN120351872A ,2025-07-22
[10]
薄膜厚度测量方法和薄膜厚度测量装置 [P]. 
李建北 ;
张晓梅 .
中国专利 :CN120668009A ,2025-09-19