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一种薄膜层厚度测量方法及测量装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411288540.4
申请日
:
2024-09-14
公开(公告)号
:
CN118794359A
公开(公告)日
:
2024-10-18
发明(设计)人
:
戴丹蕾
相宇阳
俞胜武
申请人
:
无锡卓海科技股份有限公司
申请人地址
:
214028 江苏省无锡市新吴区珠江路97号
IPC主分类号
:
G01B11/06
IPC分类号
:
H01L21/66
代理机构
:
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
:
蔡舒野
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
江苏省 无锡市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-05
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/06申请日:20240914
2024-10-18
公开
公开
2025-07-15
发明专利申请公布后的驳回
发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):G01B 11/06申请公布日:20241018
共 50 条
[1]
膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置
[P].
刘公才
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘公才
.
中国专利
:CN108981624A
,2018-12-11
[2]
厚度测量装置及测量方法
[P].
郭志鑫
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郭志鑫
;
陈华
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陈华
;
李未
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李未
;
陈新喜
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陈新喜
;
沈健
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沈健
;
王欣
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王欣
;
何建军
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何建军
;
何超
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何超
;
黄国翃
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黄国翃
;
支霄翔
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支霄翔
;
余林峰
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余林峰
;
许浒
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许浒
.
中国专利
:CN103940327A
,2014-07-23
[3]
混凝土浮浆层厚度测量装置及测量方法
[P].
赵天奇
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0
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机构:
中国冶金科工股份有限公司
中国冶金科工股份有限公司
赵天奇
;
徐俊鹏
论文数:
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机构:
中国冶金科工股份有限公司
中国冶金科工股份有限公司
徐俊鹏
;
秦娟
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机构:
中国冶金科工股份有限公司
中国冶金科工股份有限公司
秦娟
.
中国专利
:CN120274614A
,2025-07-08
[4]
厚度测量装置及厚度测量方法
[P].
丰田一贵
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机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
丰田一贵
;
泽村义巳
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0
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机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
泽村义巳
.
日本专利
:CN114325734B
,2025-02-25
[5]
厚度测量装置及厚度测量方法
[P].
D·克雷坦
论文数:
0
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0
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0
D·克雷坦
.
中国专利
:CN104619264A
,2015-05-13
[6]
厚度测量装置及厚度测量方法
[P].
丰田一贵
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丰田一贵
;
泽村义巳
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泽村义巳
.
中国专利
:CN114325734A
,2022-04-12
[7]
厚度测量装置及厚度测量方法
[P].
丰田一贵
论文数:
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丰田一贵
;
泽村义巳
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0
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0
泽村义巳
.
中国专利
:CN107037437B
,2017-08-11
[8]
薄膜层厚度的测量方法
[P].
张硕
论文数:
0
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0
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0
张硕
;
周璐
论文数:
0
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0
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0
周璐
.
中国专利
:CN112697080A
,2021-04-23
[9]
薄膜厚度测量装置和薄膜厚度测量方法
[P].
张原赫
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0
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机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
张原赫
;
李洙莲
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0
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机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
李洙莲
;
李孝善
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机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
李孝善
;
咸守娥
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机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
咸守娥
.
韩国专利
:CN120351872A
,2025-07-22
[10]
薄膜厚度测量方法和薄膜厚度测量装置
[P].
李建北
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机构:
常州华束科技有限公司
常州华束科技有限公司
李建北
;
张晓梅
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机构:
常州华束科技有限公司
常州华束科技有限公司
张晓梅
.
中国专利
:CN120668009A
,2025-09-19
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