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一阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410104998.3
申请日：
2024-01-25
公开(公告)号：
CN117991418A
公开(公告)日：
2024-05-07
发明(设计)人：
丁旭旻 熊弘基 王新伟 刘俭
申请人：
哈尔滨工业大学
申请人地址：
150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
IPC主分类号：
G02B3/00
IPC分类号：
G02B1/00 G02B21/36 G02B27/00 G06T7/13 G01N21/84 G01B11/24
代理机构：
哈尔滨奥博专利代理事务所(普通合伙) 23220
代理人：
叶以方
法律状态：
公开
国省代码：
山东省 威海市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-05-07 公开 公开
2024-05-24 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G02B 3/00申请日:20240125
2025-02-07 授权 授权
共 50 条
[1]
一阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统 [P]. 
丁旭旻 ;
熊弘基 ;
王新伟 ;
刘俭 .
中国专利 :CN117991418B ,2025-02-07
[2]
一阶二维微分运算的超构透镜边缘检测成像方法和系统 [P]. 
丁旭旻 ;
熊弘基 ;
王新伟 ;
刘俭 .
中国专利 :CN117849918B ,2025-01-28
[3]
一阶二维微分运算的超构透镜边缘检测成像方法和系统 [P]. 
丁旭旻 ;
熊弘基 ;
王新伟 ;
刘俭 .
中国专利 :CN117849918A ,2024-04-09
[4]
二阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统 [P]. 
丁旭旻 ;
王新伟 ;
熊弘基 ;
刘俭 .
中国专利 :CN117929372B ,2025-02-07
[5]
二阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统 [P]. 
丁旭旻 ;
王新伟 ;
熊弘基 ;
刘俭 .
中国专利 :CN117929372A ,2024-04-26
[6]
基于一阶一维微分运算函数超构表面的边缘检测成像方法 [P]. 
丁旭旻 ;
熊弘基 ;
王新伟 ;
刘俭 .
中国专利 :CN118037758B ,2025-07-25
[7]
基于一阶一维微分运算函数超构表面的边缘检测成像方法 [P]. 
丁旭旻 ;
熊弘基 ;
王新伟 ;
刘俭 .
中国专利 :CN118037758A ,2024-05-14
[8]
基于二阶二维微分运算函数超构透镜边缘检测成像方法 [P]. 
丁旭旻 ;
王新伟 ;
熊弘基 ;
刘俭 .
中国专利 :CN117849919A ,2024-04-09
[9]
二维空间微分运算及图像边缘检测方法及装置 [P]. 
高玮 ;
闫顶 .
中国专利 :CN115439422A ,2022-12-06
[10]
基于单片超构表面的成像式全光微分运算器件及设计方法 [P]. 
张诚 ;
张新亮 ;
刘妞 ;
林哲霖 ;
邢振宇 ;
胡雨卉 ;
廖宇轩 .
中国专利 :CN120560440A ,2025-08-29
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