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基于单片超构表面的成像式全光微分运算器件及设计方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510832349.X
申请日：
2025-06-20
公开(公告)号：
CN120560440A
公开(公告)日：
2025-08-29
发明(设计)人：
张诚 张新亮 刘妞 林哲霖 邢振宇 胡雨卉 廖宇轩
申请人：
华中科技大学
申请人地址：
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
IPC主分类号：
G06E3/00
IPC分类号：
G02B27/00
代理机构：
华中科技大学专利中心 42201
代理人：
李晓飞
法律状态：
公开
国省代码：
湖北省 武汉市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-08-29 公开 公开
2025-09-16 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06E 3/00申请日:20250620
共 37 条
[1]
基于一阶一维微分运算函数超构表面的边缘检测成像方法 [P]. 
丁旭旻 ;
熊弘基 ;
王新伟 ;
刘俭 .
中国专利 :CN118037758B ,2025-07-25
[2]
基于一阶一维微分运算函数超构表面的边缘检测成像方法 [P]. 
丁旭旻 ;
熊弘基 ;
王新伟 ;
刘俭 .
中国专利 :CN118037758A ,2024-05-14
[3]
超构表面的设计方法、超构表面及成像装置 [P]. 
李炜 ;
邢国华 ;
靳淳淇 .
中国专利 :CN114779468B ,2022-07-22
[4]
基于达曼涡旋超颖表面的光束微分运算方法 [P]. 
黄玲玲 ;
张雪 ;
王涌天 ;
李晓炜 ;
赵睿哲 .
中国专利 :CN114791667A ,2022-07-26
[5]
基于达曼涡旋超颖表面的光束微分运算方法 [P]. 
黄玲玲 ;
张雪 ;
王涌天 ;
李晓炜 ;
赵睿哲 .
中国专利 :CN114791667B ,2024-07-09
[6]
二阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统 [P]. 
丁旭旻 ;
王新伟 ;
熊弘基 ;
刘俭 .
中国专利 :CN117929372A ,2024-04-26
[7]
二阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统 [P]. 
丁旭旻 ;
王新伟 ;
熊弘基 ;
刘俭 .
中国专利 :CN117929372B ,2025-02-07
[8]
一种基于超构表面的全维度光场调控方法和器件 [P]. 
王健 ;
张金润 ;
曾进炜 .
中国专利 :CN114114720A ,2022-03-01
[9]
一阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统 [P]. 
丁旭旻 ;
熊弘基 ;
王新伟 ;
刘俭 .
中国专利 :CN117991418A ,2024-05-07
[10]
一种基于衍射光栅的多波长空间光场微分运算器件 [P]. 
阮智超 ;
方轶圣 ;
周祎晗 .
中国专利 :CN109445751A ,2019-03-08
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