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基于缺陷专注和边缘权重损失的表面缺陷检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311703447.0
申请日
:
2023-12-13
公开(公告)号
:
CN117408996B
公开(公告)日
:
2024-04-19
发明(设计)人
:
刘玉峰
孙启玉
孙平
杨公平
申请人
:
山东锋士信息技术有限公司
申请人地址
:
250107 山东省济南市高新区遥墙街道明远街2号中欧智造港18号多层厂房1单元101室、102室
IPC主分类号
:
G06T7/00
IPC分类号
:
G06V10/25
G06V10/44
G06V10/762
G06V10/764
G06V10/80
G06V10/82
G06N3/045
G06N3/0475
G06N3/09
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
河北省 保定市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-02-02
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231213
2024-01-16
公开
公开
2024-04-19
授权
授权
共 50 条
[1]
基于缺陷专注和边缘权重损失的表面缺陷检测方法
[P].
刘玉峰
论文数:
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机构:
山东锋士信息技术有限公司
山东锋士信息技术有限公司
刘玉峰
;
孙启玉
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机构:
山东锋士信息技术有限公司
山东锋士信息技术有限公司
孙启玉
;
孙平
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机构:
山东锋士信息技术有限公司
山东锋士信息技术有限公司
孙平
;
杨公平
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机构:
山东锋士信息技术有限公司
山东锋士信息技术有限公司
杨公平
.
中国专利
:CN117408996A
,2024-01-16
[2]
表面缺陷检测方法和表面缺陷检测装置
[P].
雷富强
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
雷富强
;
马刘文
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
马刘文
;
关鹏
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
关鹏
;
张巍
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
张巍
;
任海英
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
任海英
;
李燃
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
李燃
;
杨朝晖
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
杨朝晖
;
张富超
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
张富超
.
中国专利
:CN120655644A
,2025-09-16
[3]
基于边缘计算的玉珠表面缺陷检测方法
[P].
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机构:
孙晓明
;
贺志帅
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机构:
哈尔滨理工大学
哈尔滨理工大学
贺志帅
;
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机构:
陈泳吉
;
耿浩
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机构:
哈尔滨理工大学
哈尔滨理工大学
耿浩
;
陈君侠
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机构:
哈尔滨理工大学
哈尔滨理工大学
陈君侠
;
李世林
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机构:
哈尔滨理工大学
哈尔滨理工大学
李世林
;
论文数:
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机构:
赵烟桥
.
中国专利
:CN117611521A
,2024-02-27
[4]
表面缺陷检测方法及表面缺陷检测系统
[P].
曹文
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曹文
;
龙攀城
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龙攀城
;
丁玲玲
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丁玲玲
;
付翱
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付翱
.
中国专利
:CN115575399A
,2023-01-06
[5]
表面缺陷检测方法及表面缺陷检测装置
[P].
大野纮明
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大野纮明
;
儿玉俊文
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儿玉俊文
;
腰原敬弘
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腰原敬弘
;
小川晃弘
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小川晃弘
;
饭塚幸理
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饭塚幸理
.
中国专利
:CN105849534B
,2016-08-10
[6]
表面缺陷检测方法以及表面缺陷检测装置
[P].
梅垣嘉之
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机构:
杰富意钢铁株式会社
杰富意钢铁株式会社
梅垣嘉之
;
大野纮明
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机构:
杰富意钢铁株式会社
杰富意钢铁株式会社
大野纮明
.
日本专利
:CN119895252A
,2025-04-25
[7]
表面缺陷检测装置及表面缺陷检测方法
[P].
楯真沙美
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楯真沙美
;
大野纮明
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大野纮明
;
大重贵彦
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大重贵彦
.
中国专利
:CN107709977B
,2018-02-16
[8]
基于激光成像的电池FPC缺陷检测方法和系统
[P].
徐汇
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机构:
深圳市蓝特电路板有限公司
深圳市蓝特电路板有限公司
徐汇
;
李记勇
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机构:
深圳市蓝特电路板有限公司
深圳市蓝特电路板有限公司
李记勇
;
王步高
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机构:
深圳市蓝特电路板有限公司
深圳市蓝特电路板有限公司
王步高
;
杜俊顺
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机构:
深圳市蓝特电路板有限公司
深圳市蓝特电路板有限公司
杜俊顺
;
赵红武
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机构:
深圳市蓝特电路板有限公司
深圳市蓝特电路板有限公司
赵红武
;
聂海波
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机构:
深圳市蓝特电路板有限公司
深圳市蓝特电路板有限公司
聂海波
;
肖厚富
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机构:
深圳市蓝特电路板有限公司
深圳市蓝特电路板有限公司
肖厚富
.
中国专利
:CN120102599A
,2025-06-06
[9]
基于特征乱序重排的表面缺陷检测方法和装置
[P].
论文数:
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机构:
王雪
;
罗威
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机构:
清华大学
清华大学
罗威
.
中国专利
:CN118840650A
,2024-10-25
[10]
一种表面缺陷检测装置及表面缺陷检测方法
[P].
朱文兵
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朱文兵
;
罗时帅
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罗时帅
;
钱曙光
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钱曙光
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汪炉生
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汪炉生
;
柳洪哲
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柳洪哲
;
柳云鸿
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柳云鸿
;
钱根
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钱根
;
陶磊
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0
陶磊
.
中国专利
:CN114813760A
,2022-07-29
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