基于特征乱序重排的表面缺陷检测方法和装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411100928.7
申请日
2024-08-12
公开(公告)号
CN118840650A
公开(公告)日
2024-10-25
发明(设计)人
王雪 罗威
申请人
清华大学
申请人地址
100084 北京市海淀区清华园
IPC主分类号
G06V10/98
IPC分类号
G06V10/44 G06V10/74 G06V10/774 G06V10/80 G06V10/82 G06N3/0464 G06N3/084
代理机构
北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319
代理人
陈宏
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
基于特征重构的表面缺陷检测方法 [P]. 
张军 ;
李妍 ;
张洋 ;
黄若飞 ;
李思敏 ;
付英健 ;
都旭 ;
曹慧博 ;
刘保辉 ;
李朝阳 .
中国专利 :CN114419014A ,2022-04-29
[2]
基于特征重构的表面缺陷检测方法 [P]. 
张军 ;
李妍 ;
张洋 ;
黄若飞 ;
李思敏 ;
付英健 ;
都旭 ;
曹慧博 ;
刘保辉 ;
李朝阳 .
中国专利 :CN114419014B ,2024-12-10
[3]
基于特征融合的表面缺陷检测方法及设备 [P]. 
祝树杰 ;
李杰明 ;
杨洋 ;
翟爱亭 ;
黄淦 .
中国专利 :CN114550021A ,2022-05-27
[4]
表面缺陷检测方法和表面缺陷检测装置 [P]. 
雷富强 ;
马刘文 ;
关鹏 ;
张巍 ;
任海英 ;
李燃 ;
杨朝晖 ;
张富超 .
中国专利 :CN120655644A ,2025-09-16
[5]
一种基于通道增强和特征重建的表面缺陷检测方法 [P]. 
黄麟 ;
谭玉娟 .
中国专利 :CN120298374B ,2025-11-25
[6]
一种基于特征聚焦细化的表面缺陷检测方法和系统 [P]. 
许亮 ;
李育俊 .
中国专利 :CN119444729B ,2025-10-31
[7]
一种基于通道增强和特征重建的表面缺陷检测方法 [P]. 
黄麟 ;
谭玉娟 .
中国专利 :CN120298374A ,2025-07-11
[8]
一种基于特征聚焦细化的表面缺陷检测方法和系统 [P]. 
许亮 ;
李育俊 .
中国专利 :CN119444729A ,2025-02-14
[9]
基于交互式特征和级联特征的钢铁表面缺陷检测方法 [P]. 
周晓飞 ;
江岱阳 ;
张继勇 ;
李世锋 ;
周振 ;
何帆 .
中国专利 :CN115359019A ,2022-11-18
[10]
基于缺陷专注和边缘权重损失的表面缺陷检测方法 [P]. 
刘玉峰 ;
孙启玉 ;
孙平 ;
杨公平 .
中国专利 :CN117408996A ,2024-01-16