一种基于特征聚焦细化的表面缺陷检测方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411584818.2

申请日：

2024-11-07

公开(公告)号：

CN119444729B

公开(公告)日：

2025-10-31

发明(设计)人：

许亮李育俊

申请人：

广东工业大学广州德视迪智能技术有限公司

申请人地址：

510080 广东省广州市越秀区东风东路729号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/25 G06V10/44 G06V10/52 G06V10/42 G06V10/80 G06V10/771 G06V10/764 G06V20/70 G06V10/82 G06N3/0464 G06N3/0455 G06N3/084 G06N3/048

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

翁仪

法律状态：

授权

国省代码：

广东省广州市

引用

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共 50 条

[1]

一种基于特征聚焦细化的表面缺陷检测方法和系统 [P].

许亮 ;

李育俊 .

中国专利 :CN119444729A ,2025-02-14

[2]

一种基于特征提取网络的带钢表面缺陷检测方法与系统 [P].

郭华平 ;

徐成龙 ;

冯岩 ;

孙艳歌 ;

乐洪舟 .

中国专利 :CN120298305A ,2025-07-11

[3]

一种基于通道增强和特征重建的表面缺陷检测方法 [P].

黄麟 ;

谭玉娟 .

中国专利 :CN120298374B ,2025-11-25

[4]

一种基于通道增强和特征重建的表面缺陷检测方法 [P].

黄麟 ;

谭玉娟 .

中国专利 :CN120298374A ,2025-07-11

[5]

基于特征重构的表面缺陷检测方法 [P].

张军 ;

李妍 ;

张洋 ;

黄若飞 ;

李思敏 ;

付英健 ;

都旭 ;

曹慧博 ;

刘保辉 ;

李朝阳 .

中国专利 :CN114419014A ,2022-04-29

[6]

基于特征重构的表面缺陷检测方法 [P].

张军 ;

李妍 ;

张洋 ;

黄若飞 ;

李思敏 ;

付英健 ;

都旭 ;

曹慧博 ;

刘保辉 ;

李朝阳 .

中国专利 :CN114419014B ,2024-12-10

[7]

基于多尺度特征学习的晶圆表面缺陷检测方法 [P].

胡立磊 ;

马灿 .

中国专利 :CN121120530A ,2025-12-12

[8]

一种多尺度特征细节增强的锂电池表面缺陷检测方法和系统 [P].

邓耀华 ;

陈迁涵 ;

李绪涛 ;

冯铭锋 ;

李泽杭 .

中国专利 :CN120219352A ,2025-06-27

[9]

一种基于特征预融合与掩膜引导的表面缺陷检测方法 [P].

赵于前 ;

王辉 ;

张帆 ;

阳春华 ;

桂卫华 .

中国专利 :CN116805310B ,2025-12-26

[10]

基于特征乱序重排的表面缺陷检测方法和装置 [P].

王雪 ;

罗威 .

中国专利 :CN118840650A ,2024-10-25

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-31	授权	授权
2025-02-14	公开	公开
2025-03-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241107