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微小構造の非対称性の測定方法ならびに測定装置、位置測定方法、位置測定装置、リソグラフィ装置およびデバイス製造方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20160504547
申请日
:
2014-03-06
公开(公告)号
:
JP2016519765A
公开(公告)日
:
2016-07-07
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B11/00
IPC分类号
:
G03F9/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[21]
測定デバイス、測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007049607A1
,2009-04-30
[22]
測定装置、測定方法、及び測定デバイス[ja]
[P].
YAMAOKA HIDEHIKO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO METRO IND TECH RES INST
TOKYO METRO IND TECH RES INST
YAMAOKA HIDEHIKO
;
NAGATA KOKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO METRO IND TECH RES INST
TOKYO METRO IND TECH RES INST
NAGATA KOKI
.
日本专利
:JP2025041447A
,2025-03-26
[23]
測定デバイス、測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2008023579A1
,2010-01-07
[24]
測定デバイス、測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007049611A1
,2009-04-30
[25]
位置測定装置、位置測定方法および位置測定用プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6934367B2
,2021-09-15
[26]
位置測定装置及び位置測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018143153A1
,2020-01-09
[27]
位置測定装置及び位置測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5615428B2
,2014-10-29
[28]
位置測定方法及び位置測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7453584B2
,2024-03-21
[29]
位置測定装置及び位置測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012143988A1
,2014-07-28
[30]
位置測定装置及び位置測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7488543B2
,2024-05-22
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