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測定方法および電子顕微鏡[ja]
被引:0
申请号
:
JP20150038469
申请日
:
2015-02-27
公开(公告)号
:
JP6429677B2
公开(公告)日
:
2018-11-28
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J37/244
IPC分类号
:
H01J37/22
H01J37/28
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[21]
光音響顕微鏡および音響波測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7248282B2
,2023-03-29
[22]
相対回転角度の測定方法および走査透過電子顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP7333800B2
,2023-08-25
[23]
電子分光装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6677571B2
,2020-04-08
[24]
電子分光装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6405271B2
,2018-10-17
[25]
多光子顕微鏡測定方法及び装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2020522757A
,2020-07-30
[26]
近接場測定方法および近接場光学顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP6219257B2
,2017-10-25
[27]
試料寸法測定方法及び走査型電子顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2003021186A1
,2004-12-16
[28]
試料の検査,測定方法、及び走査電子顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP5696198B2
,2015-04-08
[29]
顕微鏡装置、顕微鏡装置の試料屈折率測定方法、および顕微鏡装置の試料屈折率測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7380906B2
,2023-11-15
[30]
電気力/磁気力顕微鏡および電場/磁場同時測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015115622A1
,2017-03-23
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