共 28 条
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地層の密度分布を把握するための検層装置[ja]
被引：0
申请号：
JP20120281746
申请日：
2012-12-25
公开(公告)号：
JP6090832B2
公开(公告)日：
2017-03-08
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
G01V5/04
IPC分类号：
G01T1/00
G01T1/20
G01T1/203
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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