検査装置、包装機及び包装体の検査方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20190092745

申请日：

2019-05-16

公开(公告)号：

JP6763059B1

公开(公告)日：

2020-09-30

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N23/04

IPC分类号：

G01N23/18

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法律状态信息

共 50 条

[1]

検査装置、包装体製造装置及び包装体製造方法[ja] [P].

日本专利 :JP6752941B1 ,2020-09-09

[2]

検査システム及び検査方法[ja] [P].

TATEYAMA NOZOMI ;

UCHIMURA MASAHIRO ;

ASAI MASATAKA ;

FUJIMURA TETSUSHI ;

UCHIDA YOZO ;

MATSUMOTO SHIGERU ;

TAKIMOTO TAKASHI ;

NAKAMURA SHUNSUKE ;

MACHIDA KEITARO .

日本专利 :JP2025047744A ,2025-04-03

[3]

Ｘ線検査装置及び方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2012108278A1 ,2014-07-03

[4]

検査用光照射装置及び検査システム[ja] [P].

日本专利 :JP6930909B2 ,2021-09-01

[5]

Ｘ線検査システム及びＸ線検査方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2019035234A1 ,2019-11-07

[6]

Ｘ線検査装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2020017076A1 ,2021-01-07

[7]

Ｘ線検査装置[ja] [P].

日本专利 :JP3236674U ,2022-03-09

[8]

電子部品の外観検査装置および電子部品の外観検査方法[ja] [P].

MASUMURA SHIGEKI ;

AKIMOTO TAKAYUKI .

日本专利 :JP2024027724A ,2024-03-01

[9]

Ｘ線検査装置、Ｘ線検査システム[ja] [P].

MURATA KOJI .

日本专利 :JP2024172593A ,2024-12-12

[10]

組付治具の検査装置[ja] [P].

日本专利 :JP2025004567A ,2025-01-15

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