電子部品の外観検査装置および電子部品の外観検査方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20220130771

申请日：

2022-08-18

公开(公告)号：

JP2024027724A

公开(公告)日：

2024-03-01

发明(设计)人：

MASUMURA SHIGEKI AKIMOTO TAKAYUKI

申请人：

MACHINE VISION LIGHTING INC TOKYO WELD CO LTD

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N21/956

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

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法律状态信息

共 50 条

[1]

電子部品構造体の製造装置、プラズマ照射装置、および電子部品構造体の製造方法[ja] [P].

日本专利 :JP7772357B2 ,2025-11-18

[2]

検査装置、包装機及び包装体の検査方法[ja] [P].

日本专利 :JP6763059B1 ,2020-09-30

[3]

電子部品及び荷電粒子ビーム照射装置[ja] [P].

ONOZUKA YUTAKA ;

AZUMA KAZUYUKI ;

SAITO TOMOHIRO ;

GOTO YOSHIKUNI ;

SHINOHARA YOSHIAKI .

日本专利 :JP2025044137A ,2025-04-01

[4]

電子部品及び荷電粒子ビーム照射装置[ja] [P].

AZUMA KAZUYUKI ;

TSUMURA KAZUMICHI ;

SAITO TOMOHIRO ;

YODA TAKASHI ;

OGASAWARA MUNEHIRO ;

HIRAKAWA KENJI ;

IWASE MASAYUKI .

日本专利 :JP2025044065A ,2025-04-01

[5]

組付治具の検査装置[ja] [P].

日本专利 :JP2025004567A ,2025-01-15

[6]

走査電磁石、および走査電磁石を備えた粒子線照射装置の製造方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018047272A1 ,2019-02-14

[7]

走査電磁石、および走査電磁石を備えた粒子線照射装置の製造方法[ja] [P].

日本专利 :JP6584678B2 ,2019-10-02

[8]

Ｘ線検査装置及び方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2012108278A1 ,2014-07-03

[9]

電子ビーム照射装置、描画装置及び検査装置[ja] [P].

日本专利 :JP7356329B2 ,2023-10-04

[10]

電子線照射装置およびその使用方法[ja] [P].

日本专利 :JP6846142B2 ,2021-03-24

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