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ワイドギャップIII-V族化合物半導体ドレインを有するSi-MOSFET、及びその製造方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200188266
申请日
:
2020-11-11
公开(公告)号
:
JP7019218B2
公开(公告)日
:
2022-02-15
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L21/336
IPC分类号
:
H01L29/78
H01L29/786
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
III-V族化合物半導体発光素子及びIII-V族化合物半導体発光素子の製造方法[ja]
[P].
KOJIKA YUTA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
DOWA ELECTRONICS MATERIALS CO LTD
DOWA ELECTRONICS MATERIALS CO LTD
KOJIKA YUTA
;
KADOWAKI YOSHITAKA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
DOWA ELECTRONICS MATERIALS CO LTD
DOWA ELECTRONICS MATERIALS CO LTD
KADOWAKI YOSHITAKA
.
日本专利
:JP2024035143A
,2024-03-13
[2]
III-V族化合物半導体発光素子及びIII-V族化合物半導体発光素子の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7413599B1
,2024-01-15
[3]
III−V族化合物半導体の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5678874B2
,2015-03-04
[4]
III-V族化合物半導体を生成する微生物[ja]
[P].
日本专利
:JP7095871B2
,2022-07-05
[5]
III—V族化合物半導体装置の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6509455B1
,2019-05-08
[6]
III—V族化合物半導体装置の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019224966A1
,2020-05-28
[7]
III-V族化合物半導体単結晶基板およびその製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7609305B2
,2025-01-07
[8]
III-V族化合物結晶の製造方法および半導体装置の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7117690B2
,2022-08-15
[9]
ウレイド基を有する化合物の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5753380B2
,2015-07-22
[10]
ウレイド基を有する化合物の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6438658B2
,2018-12-19
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