共 50 条
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光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
被引：0
申请号：
JP20220055082
申请日：
2022-03-30
公开(公告)号：
JP2022079608A
公开(公告)日：
2022-05-26
发明(设计)人：
KANAI KENJIRO
申请人：
TOKYO SEIMITSU CO LTD
申请人地址：
IPC主分类号：
G01B21/10
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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