光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]

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申请号
JP20180062275
申请日
2018-03-28
公开(公告)号
JP7051533B2
公开(公告)日
2022-04-11
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01B5/12
IPC分类号
G01D5/347
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
KANAI KENJIRO .
日本专利 :JP2022079608A ,2022-05-26
[2]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7259112B2 ,2023-04-17
[3]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7611287B2 ,2025-01-09
[4]
内径測定装置およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7077098B2 ,2022-05-30
[5]
歪測定部品およびこれを用いた歪測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6682176B2 ,2020-04-15
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
内径測定装置およびそれを用いた内径測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2022081675A ,2022-05-31