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光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20180062275
申请日
:
2018-03-28
公开(公告)号
:
JP7051533B2
公开(公告)日
:
2022-04-11
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B5/12
IPC分类号
:
G01D5/347
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
KANAI KENJIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO SEIMITSU CO LTD
KANAI KENJIRO
.
日本专利
:JP2022079608A
,2022-05-26
[2]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7259112B2
,2023-04-17
[3]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7611287B2
,2025-01-09
[4]
内径測定装置およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7077098B2
,2022-05-30
[5]
歪測定部品およびこれを用いた歪測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6682176B2
,2020-04-15
[6]
内径測定装置およびそれを用いた内径測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7047145B2
,2022-04-04
[7]
内径測定装置およびそれを用いた内径測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6824798B2
,2021-02-03
[8]
内径測定装置およびそれを用いた内径測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7238187B2
,2023-03-13
[9]
推力測定装置およびそれを用いた推力測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6934599B2
,2021-09-15
[10]
内径測定装置およびそれを用いた内径測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022081675A
,2022-05-31
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