Ｘ線検査システム、Ｘ線画像化アクセサリ、検体支持体、キット、及びＸ線検査システムを使用する方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20220575964

申请日：

2021-06-08

公开(公告)号：

JP2023530080A

公开(公告)日：

2023-07-13

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N23/046

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法律状态信息

共 50 条

[1]

検体検査システム及び検体検査方法[ja] [P].

日本专利 :JP7027593B1 ,2022-03-01

[2]

検体検査管理システム[ja] [P].

SAGO TAKAYUKI .

日本专利 :JP2025010661A ,2025-01-23

[3]

検体検査管理システム[ja] [P].

日本专利 :JP7343741B1 ,2023-09-13

[4]

食品検査システム、及び食品検査方法[ja] [P].

CHUNG CHEN-KUEI ;

YU CHUNG-YU ;

LIN DING-YAN .

日本专利 :JP2025031438A ,2025-03-07

[5]

検査システム、画像センサ、及び、画像センサを製造する方法。[ja] [P].

日本专利 :JP2022109263A ,2022-07-27

[6]

トモシンセシスシステムのようなＸ線システム及び対象の画像を取得する方法[ja] [P].

日本专利 :JP2016533789A ,2016-11-04

[7]

検査装置及び生産管理システム[ja] [P].

日本专利 :JP7749091B1 ,2025-10-03

[8]

物体検出装置、ロボットシステム及び物体検出方法[ja] [P].

MATSUDA YOSHIHEI ;

YAMANE MITSUKI ;

IMOTO RYOTA ;

XU TIANFEN .

日本专利 :JP2024094664A ,2024-07-10

[9]

Ｘ線回折法システムにおける二次元検出器の空間的向きを決定する方法[ja] [P].

日本专利 :JP6974900B2 ,2021-12-01

[10]

半導体ウエハの評価方法、半導体ウエハの評価システム、プログラム、半導体ウエハの検査方法および半導体ウエハの検査システム[ja] [P].

日本专利 :JP6918434B1 ,2021-08-11

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