金属材料中微粒子の粒度分布測定方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20100509216

申请日：

2009-04-23

公开(公告)号：

JPWO2009131175A1

公开(公告)日：

2011-08-18

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IPC主分类号：

G01N15/02

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共 50 条

[1]

金属材料中微粒的粒度分布测定方法 [P].

水上和实 ;

村上健一 ;

新井聪 ;

森重宣乡 ;

久保祐治 ;

本间穗高 ;

难波英一 .

中国专利 :CN102016543A ,2011-04-13

[2]

微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7268710B2 ,2023-05-08

[3]

微粒子測定装置及び微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2010092773A1 ,2012-08-16

[4]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5842050B2 ,2016-01-13

[5]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009128233A1 ,2011-08-04

[6]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009093458A1 ,2011-05-26

[7]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

IMAI YASUHARU ;

SATO HIROSHI ;

OINUMA KOSUKE ;

WASHIZU SHINEI .

日本专利 :JP2024176883A ,2024-12-19

[8]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

IMAI YASUHARU ;

WASHIZU SHINEI .

日本专利 :JP2024146354A ,2024-10-15

[9]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009037804A1 ,2011-01-06

[10]

微粒子捕捉装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6650772B2 ,2020-02-19

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