共 50 条
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微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja]
被引：0
申请号：
JP20230095732
申请日：
2023-06-09
公开(公告)号：
JP2024176883A
公开(公告)日：
2024-12-19
发明(设计)人：
IMAI YASUHARU
SATO HIROSHI
OINUMA KOSUKE
WASHIZU SHINEI
申请人：
ADVANTEST CORP
申请人地址：
IPC主分类号：
G01N15/13
IPC分类号：
G01N15/12
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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