微粒子測定装置および微粒子測定システム[ja]

被引：0

申请号：

JP20150214397

申请日：

2015-10-30

公开(公告)号：

JP6580945B2

公开(公告)日：

2019-09-25

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N27/60

IPC分类号：

G01N15/06

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法律状态信息

共 50 条

[1]

微粒子測定装置および微粒子測定システム[ja] [P].

日本专利 :JP6730154B2 ,2020-07-29

[2]

微粒子測定装置および微粒子測定システム[ja] [P].

日本专利 :JP6730155B2 ,2020-07-29

[3]

微粒子測定装置および微粒子測定システム[ja] [P].

日本专利 :JP6342937B2 ,2018-06-13

[4]

微粒子測定装置および微粒子測定システム[ja] [P].

日本专利 :JP6805038B2 ,2020-12-23

[5]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5842050B2 ,2016-01-13

[6]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009128233A1 ,2011-08-04

[7]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009093458A1 ,2011-05-26

[8]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

IMAI YASUHARU ;

SATO HIROSHI ;

OINUMA KOSUKE ;

WASHIZU SHINEI .

日本专利 :JP2024176883A ,2024-12-19

[9]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

IMAI YASUHARU ;

WASHIZU SHINEI .

日本专利 :JP2024146354A ,2024-10-15

[10]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009037804A1 ,2011-01-06

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