測定方法および測定デバイス[ja]

被引:0
申请号
JP20220574158
申请日
2021-06-11
公开(公告)号
JP2023534785A
公开(公告)日
2023-08-14
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
A61B5/11
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
測定デバイス及び測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2024518800A ,2024-05-02
[2]
測定デバイス、測定装置及び測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2008023579A1 ,2010-01-07
[3]
測定デバイス、測定装置及び測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2007049607A1 ,2009-04-30
[4]
測定装置、測定方法、及び測定デバイス[ja] [P]. 
YAMAOKA HIDEHIKO ;
NAGATA KOKI .
日本专利 :JP2025041447A ,2025-03-26
[5]
測定デバイス、測定装置及び測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2007049611A1 ,2009-04-30
[6]
[7]
測定基板および測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6942224B2 ,2021-09-29
[9]
測定基板および測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2019504477A ,2019-02-14
[10]
測定素子、および測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6911409B2 ,2021-07-28