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測定方法および測定デバイス[ja]
被引:0
申请号
:
JP20220574158
申请日
:
2021-06-11
公开(公告)号
:
JP2023534785A
公开(公告)日
:
2023-08-14
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
A61B5/11
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定デバイス及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2024518800A
,2024-05-02
[2]
測定デバイス、測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2008023579A1
,2010-01-07
[3]
測定デバイス、測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007049607A1
,2009-04-30
[4]
測定装置、測定方法、及び測定デバイス[ja]
[P].
YAMAOKA HIDEHIKO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO METRO IND TECH RES INST
TOKYO METRO IND TECH RES INST
YAMAOKA HIDEHIKO
;
NAGATA KOKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO METRO IND TECH RES INST
TOKYO METRO IND TECH RES INST
NAGATA KOKI
.
日本专利
:JP2025041447A
,2025-03-26
[5]
測定デバイス、測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007049611A1
,2009-04-30
[6]
被測定物の測定方法およびそれに用いる測定デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014017431A1
,2016-07-11
[7]
測定基板および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6942224B2
,2021-09-29
[8]
被測定物の測定方法およびそれに用いる測定デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP5967202B2
,2016-08-10
[9]
測定基板および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2019504477A
,2019-02-14
[10]
測定素子、および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6911409B2
,2021-07-28
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