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被測定物の測定方法およびそれに用いる測定デバイス[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140526908
申请日
:
2013-07-22
公开(公告)号
:
JP5967202B2
公开(公告)日
:
2016-08-10
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N21/3586
IPC分类号
:
G01S17/04
G01N21/01
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
被測定物の測定方法およびそれに用いる測定デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014017431A1
,2016-07-11
[2]
測定用デバイス、および、それを用いた被測定物の特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013035371A1
,2015-03-23
[3]
測定用デバイス、および、それを用いた被測定物の特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5828899B2
,2015-12-09
[4]
測定方法および測定デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP2023534785A
,2023-08-14
[5]
被測定物測定装置および被測定物測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6761703B2
,2020-09-30
[6]
被測定物の特性の測定方法、および、それに用いられるセンシングデバイス[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011125355A1
,2013-07-08
[7]
被測定物の特性の測定方法、および、それに用いられるセンシングデバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP5859955B2
,2016-02-16
[8]
測定デバイス及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2024518800A
,2024-05-02
[9]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015005156A1
,2017-03-02
[10]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012165052A1
,2015-02-23
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