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測定用デバイス、および、それを用いた被測定物の特性測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20130532471
申请日
:
2012-04-12
公开(公告)号
:
JP5828899B2
公开(公告)日
:
2015-12-09
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N21/03
IPC分类号
:
G01N21/3586
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定用デバイス、および、それを用いた被測定物の特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013035371A1
,2015-03-23
[2]
被測定物の測定方法およびそれに用いる測定デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014017431A1
,2016-07-11
[3]
被測定物の測定方法およびそれに用いる測定デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP5967202B2
,2016-08-10
[4]
測定方法および測定デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP2023534785A
,2023-08-14
[5]
被測定物測定装置および被測定物測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6761703B2
,2020-09-30
[6]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
KANAI KENJIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO SEIMITSU CO LTD
KANAI KENJIRO
.
日本专利
:JP2022079608A
,2022-05-26
[7]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7259112B2
,2023-04-17
[8]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7611287B2
,2025-01-09
[9]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7051533B2
,2022-04-11
[10]
3次元測定器を用いた被測定体の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7324497B2
,2023-08-10
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