微粒子測定装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20140007033

申请日：

2014-01-17

公开(公告)号：

JP5851534B2

公开(公告)日：

2016-02-03

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N15/06

IPC分类号：

B07B7/02 G01N1/02 G01N15/02

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法律状态信息

共 50 条

[1]

微粒子測定装置[ja] [P].

SATO HIROSHI ;

IMAI YASUHARU ;

WASHIZU SHINEI .

日本专利 :JP2024176884A ,2024-12-19

[2]

微粒子測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6134572B2 ,2017-05-24

[3]

微粒子測定装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009118821A1 ,2011-07-21

[4]

微粒子測定装置及び微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2010092773A1 ,2012-08-16

[5]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5842050B2 ,2016-01-13

[6]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009128233A1 ,2011-08-04

[7]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009093458A1 ,2011-05-26

[8]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

IMAI YASUHARU ;

SATO HIROSHI ;

OINUMA KOSUKE ;

WASHIZU SHINEI .

日本专利 :JP2024176883A ,2024-12-19

[9]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

IMAI YASUHARU ;

WASHIZU SHINEI .

日本专利 :JP2024146354A ,2024-10-15

[10]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009037804A1 ,2011-01-06

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