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粒子分光計のための分析装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140206185
申请日
:
2014-10-07
公开(公告)号
:
JP5815826B2
公开(公告)日
:
2015-11-17
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N23/227
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
粒子分光計のための分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2015511055A
,2015-04-13
[2]
粒子分光計のための分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6301269B2
,2018-03-28
[3]
分析装置のための分析ユニット[ja]
[P].
日本专利
:JP6411366B2
,2018-10-24
[4]
分析装置のための分析ユニット[ja]
[P].
日本专利
:JP2016503171A
,2016-02-01
[5]
粒子状物質の測定を行うための分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6824304B2
,2021-02-03
[6]
発光分光分析装置のためのプラズマチャンバ[ja]
[P].
ANDRE PETERS
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH ANALYTICAL SCIENCE GMBH
HITACHI HIGH TECH ANALYTICAL SCIENCE GMBH
ANDRE PETERS
.
日本专利
:JP2024062944A
,2024-05-10
[7]
光子分光分析装置および光子分光分析方法、その装置を較正するための方法、並びに、その装置の使用[ja]
[P].
日本专利
:JP6351977B2
,2018-07-04
[8]
分光分析装置用の光学系[ja]
[P].
日本专利
:JP2023500458A
,2023-01-06
[9]
分光分析装置用の光学系[ja]
[P].
日本专利
:JP7579851B2
,2024-11-08
[10]
物質分析のための方法および装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2016509230A
,2016-03-24
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