光子分光分析装置および光子分光分析方法、その装置を較正するための方法、並びに、その装置の使用[ja]

被引:0
申请号
JP20130558389
申请日
2012-03-12
公开(公告)号
JP6351977B2
公开(公告)日
2018-07-04
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01T1/36
IPC分类号
G01T1/167 G01T1/17 G01T1/172 G21F9/04
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[2]
[3]
[4]
分析装置およびその分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6476275B2 ,2019-02-27
[5]
分析装置およびその分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2016136464A1 ,2017-12-21
[6]
粒子分光計のための分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP2015511055A ,2015-04-13
[7]
粒子分光計のための分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5815826B2 ,2015-11-17
[8]
粒子分光計のための分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6301269B2 ,2018-03-28
[9]
携帯用分析装置およびその操作のための方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2015501433A ,2015-01-15
[10]
携帯用分析装置およびその操作のための方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6106682B2 ,2017-04-05