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光子分光分析装置および光子分光分析方法、その装置を較正するための方法、並びに、その装置の使用[ja]
被引:0
申请号
:
JP20130558389
申请日
:
2012-03-12
公开(公告)号
:
JP6351977B2
公开(公告)日
:
2018-07-04
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01T1/36
IPC分类号
:
G01T1/167
G01T1/17
G01T1/172
G21F9/04
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[41]
分光分析装置及び分光分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6796016B2
,2020-12-02
[42]
分光分析装置及び分光分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025179652A
,2025-12-10
[43]
分光分析装置及び分光分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6791213B2
,2020-11-25
[44]
分析装置および分析装置のラックスロットの中にラックを装填するための方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6902914B2
,2021-07-14
[45]
冷媒分析装置及びその使用方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2018505428A
,2018-02-22
[46]
自動分析装置及びその分析方法[ja]
[P].
SATO TSUBOMI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
SATO TSUBOMI
;
TAKAHASHI KENICHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
TAKAHASHI KENICHI
.
日本专利
:JP2025068865A
,2025-04-30
[47]
仮想通貨の分析装置及びその方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6478193B2
,2019-03-06
[48]
試料を光熱分析するための分析装置及び分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5833603B2
,2015-12-16
[49]
試料の吸光度分布を近似式により推定する方法、および分光分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6673169B2
,2020-03-25
[50]
流体の分析装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7388801B2
,2023-11-29
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