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光子分光分析装置および光子分光分析方法、その装置を較正するための方法、並びに、その装置の使用[ja]
被引:0
申请号
:
JP20130558389
申请日
:
2012-03-12
公开(公告)号
:
JP6351977B2
公开(公告)日
:
2018-07-04
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01T1/36
IPC分类号
:
G01T1/167
G01T1/17
G01T1/172
G21F9/04
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[21]
測定用基材及びその製造方法、並びに発光分光分析装置及び発光分光分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7280110B2
,2023-05-23
[22]
眼検査のための方法および分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5913424B2
,2016-04-27
[23]
ICP分析装置及びその分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5612502B2
,2014-10-22
[24]
分光分析装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6687217B2
,2020-04-22
[25]
分析デバイスおよびそれとともに使用するための分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2020524812A
,2020-08-20
[26]
分析デバイスおよびそれとともに使用するための分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7187552B2
,2022-12-12
[27]
溶液分析装置及びその製造方法、並びに溶液分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6792869B2
,2020-12-02
[28]
分光光度計および分光分析装置、ならびに分光光度計の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7094390B2
,2022-07-01
[29]
分光光度計および分光分析装置、ならびに分光光度計の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020129519A1
,2021-10-14
[30]
分光分析装置及び分光分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6981817B2
,2021-12-17
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