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フィン型半導体デバイス[ja]
被引:0
申请号
:
JP20160501582
申请日
:
2014-03-12
公开(公告)号
:
JP2016516302A
公开(公告)日
:
2016-06-02
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L21/8234
IPC分类号
:
H01L21/265
H01L21/336
H01L21/8238
H01L27/088
H01L27/092
H01L29/78
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
半導体デバイスの製造方法及び半導体デバイス[ja]
[P].
DAVID LYSACEK
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
DAVID LYSACEK
;
JAN HYBL
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
JAN HYBL
;
DUSAN POSTULKA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
DUSAN POSTULKA
;
JURAJ JARINA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
JURAJ JARINA
;
VIT JANIREK
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
VIT JANIREK
;
ALEXANDRA SENKOVA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
SEMICONDUCTOR COMPONENTS IND LLC
ALEXANDRA SENKOVA
.
日本专利
:JP2024031904A
,2024-03-07
[2]
パワー半導体デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP2018511163A
,2018-04-19
[3]
酸化物半導体膜および半導体デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP6551414B2
,2019-07-31
[4]
酸化物半導体膜および半導体デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016121152A1
,2017-09-28
[5]
トランジスタ及び半導体デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP7721837B1
,2025-08-12
[6]
トランジスタ及び半導体デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP7714834B1
,2025-07-29
[7]
トランジスタ及び半導体デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP7715966B1
,2025-07-30
[8]
デバイス基板及び半導体デバイスの製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2018519655A
,2018-07-19
[9]
半導体デバイスの製造プロセス[ja]
[P].
日本专利
:JP2014530477A
,2014-11-17
[10]
酸化物焼結体および半導体デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP6255813B2
,2018-01-10
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