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形状計測装置、加工装置及び形状計測方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20150036783
申请日
:
2015-02-26
公开(公告)号
:
JP6352833B2
公开(公告)日
:
2018-07-04
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B11/24
IPC分类号
:
G01B21/20
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
形状計測装置、加工装置及び形状計測装置の校正方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6599266B2
,2019-10-30
[2]
形状計測装置、加工装置及び形状計測装置の校正方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6444783B2
,2018-12-26
[3]
形状計測装置及び加工装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6611177B2
,2019-11-27
[4]
計測装置及び加工装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7630880B2
,2025-02-18
[5]
計測器及び加工装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6973913B2
,2021-12-01
[6]
計測装置、計測方法、光学素子の加工装置、および、光学素子[ja]
[P].
日本专利
:JP6429503B2
,2018-11-28
[7]
計測装置、計測方法、加工装置、および被加工物の生産方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6825234B2
,2021-02-03
[8]
厚み計測装置、及び厚み計測装置を備えた加工装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7235514B2
,2023-03-08
[9]
厚み計測装置、及び厚み計測装置を備えた加工装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7358185B2
,2023-10-10
[10]
厚み計測装置、及び厚み計測装置を備えた加工装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7210367B2
,2023-01-23
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