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パターン寸法測定装置及びパターン面積測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20070537646
申请日
:
2007-07-17
公开(公告)号
:
JPWO2008032488A1
公开(公告)日
:
2010-01-21
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B15/00
IPC分类号
:
G06V10/44
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
パターン寸法測定装置、パターン寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5910231B2
,2016-04-27
[2]
パターン寸法測定方法及びパターン寸法測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5733012B2
,2015-06-10
[3]
パターン測定装置及びパターン測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2010073360A1
,2012-05-31
[4]
パターン測定方法、及びパターン測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6427571B2
,2018-11-21
[5]
パターン測定方法及びパターン測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5642108B2
,2014-12-17
[6]
パターン測定方法、及びパターン測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016002341A1
,2017-06-01
[7]
パターン寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2002075246A1
,2004-07-08
[8]
パターンの測定方法、及びパターン測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6002486B2
,2016-10-05
[9]
パターン測定装置およびパターン測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6127458B2
,2017-05-17
[10]
パターン測定方法およびパターン測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2025144774A
,2025-10-03
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