パターン寸法測定方法及びパターン寸法測定装置[ja]

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申请号
JP20110109465
申请日
2011-05-16
公开(公告)号
JP5733012B2
公开(公告)日
2015-06-10
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01B15/00
IPC分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
[2]
パターン寸法測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2002075246A1 ,2004-07-08
[3]
パターン寸法測定装置及びパターン面積測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2008032488A1 ,2010-01-21
[4]
パターン測定装置及びパターン測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2010073360A1 ,2012-05-31
[5]
パターン測定方法、及びパターン測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6427571B2 ,2018-11-21
[6]
パターン測定方法及びパターン測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5642108B2 ,2014-12-17
[7]
パターン測定方法、及びパターン測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2016002341A1 ,2017-06-01
[8]
パターンの測定方法、及びパターン測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6002486B2 ,2016-10-05
[9]
パターン寸法測定方法、及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5686627B2 ,2015-03-18
[10]
寸法測定装置及び寸法測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6799232B2 ,2020-12-16