パターン寸法測定方法、及び荷電粒子線装置[ja]

被引:0
申请号
JP20110037771
申请日
2011-02-24
公开(公告)号
JP5686627B2
公开(公告)日
2015-03-18
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01B15/00
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
[2]
[3]
パターン寸法測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2002075246A1 ,2004-07-08
[6]
パターン寸法測定装置及びパターン面積測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2008032488A1 ,2010-01-21
[8]
試料の寸法測定方法、および荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5970229B2 ,2016-08-17
[9]
荷電粒子測定装置及び荷電粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6591309B2 ,2019-10-16
[10]
荷電粒子線装置及び電気抵抗測定方法[ja] [P]. 
BIZEN DAISUKE ;
KASUYA KEIGO .
日本专利 :JP2024123597A ,2024-09-12