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パターン寸法測定方法、及び荷電粒子線装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20110037771
申请日
:
2011-02-24
公开(公告)号
:
JP5686627B2
公开(公告)日
:
2015-03-18
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B15/00
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
パターン寸法測定方法及びパターン寸法測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5733012B2
,2015-06-10
[2]
パターン寸法測定装置、パターン寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5910231B2
,2016-04-27
[3]
パターン寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2002075246A1
,2004-07-08
[4]
パターン測定方法、荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014115740A1
,2017-01-26
[5]
パターン測定方法、荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6069367B2
,2017-02-01
[6]
パターン寸法測定装置及びパターン面積測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2008032488A1
,2010-01-21
[7]
パターン寸法測定方法及びそれに用いる荷電粒子線顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011052339A1
,2013-03-21
[8]
試料の寸法測定方法、および荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5970229B2
,2016-08-17
[9]
荷電粒子測定装置及び荷電粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6591309B2
,2019-10-16
[10]
荷電粒子線装置及び電気抵抗測定方法[ja]
[P].
BIZEN DAISUKE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI LTD
HITACHI LTD
BIZEN DAISUKE
;
KASUYA KEIGO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI LTD
HITACHI LTD
KASUYA KEIGO
.
日本专利
:JP2024123597A
,2024-09-12
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