荷電粒子測定装置及び荷電粒子測定方法[ja]

被引:0
申请号
JP20160030072
申请日
2016-02-19
公开(公告)号
JP6591309B2
公开(公告)日
2019-10-16
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01T1/17
IPC分类号
G01T1/18
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
荷電粒子装置および測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6595856B2 ,2019-10-23
[2]
荷電粒子線装置及び電気抵抗測定方法[ja] [P]. 
BIZEN DAISUKE ;
KASUYA KEIGO .
日本专利 :JP2024123597A ,2024-09-12
[3]
放電電荷量測定方法及び放電電荷量測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5958318B2 ,2016-07-27
[4]
試料帯電測定方法及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2003007330A1 ,2004-11-04
[5]
試料電位測定方法、及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011007517A1 ,2012-12-20
[6]
粒子測定装置及び粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7421968B2 ,2024-01-25
[7]
粒子測定装置、及び粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5770255B2 ,2015-08-26