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表面電荷分布測定方法および表面電荷分布測定装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20100257313
申请日
:
2010-11-17
公开(公告)号
:
JP5609579B2
公开(公告)日
:
2014-10-22
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G03G21/00
IPC分类号
:
G01R29/12
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
表面電荷分布測定方法および表面電荷分布測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5797446B2
,2015-10-21
[2]
表面電位測定装置および表面電位測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6227262B2
,2017-11-08
[3]
荷電粒子測定装置及び荷電粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6591309B2
,2019-10-16
[4]
表面温度分布測定装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6679915B2
,2020-04-15
[5]
放電電荷量測定方法及び放電電荷量測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5958318B2
,2016-07-27
[6]
荷電粒子装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6595856B2
,2019-10-23
[7]
荷電粒子ビーム分布測定システムおよび荷電粒子ビーム分布測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6438646B2
,2018-12-19
[8]
部分放電電荷量測定方法および装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007063647A1
,2009-05-07
[9]
元素分布測定装置および元素分布測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7665451B2
,2025-04-21
[10]
表面形状測定方法および表面形状測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5929518B2
,2016-06-08
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