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荷電粒子線装置及び電気抵抗測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20230031156
申请日
:
2023-03-01
公开(公告)号
:
JP2024123597A
公开(公告)日
:
2024-09-12
发明(设计)人
:
BIZEN DAISUKE
KASUYA KEIGO
申请人
:
HITACHI LTD
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J37/22
IPC分类号
:
H01J37/28
H01L21/66
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
電気抵抗測定装置及び電気抵抗測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6600549B2
,2019-10-30
[2]
荷電粒子測定装置及び荷電粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6591309B2
,2019-10-16
[3]
試料帯電測定方法及び荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2003007330A1
,2004-11-04
[4]
試料電位測定方法、及び荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011007517A1
,2012-12-20
[5]
電気抵抗の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5641305B2
,2014-12-17
[6]
電気抵抗測定機及びそれを用いる電気抵抗測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020149371A1
,2021-11-25
[7]
電気抵抗測定機及びそれを用いる電気抵抗測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7500437B2
,2024-06-17
[8]
荷電粒子装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6595856B2
,2019-10-23
[9]
パターン測定方法、荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014115740A1
,2017-01-26
[10]
パターン測定方法、荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6069367B2
,2017-02-01
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