荷電粒子線装置及び電気抵抗測定方法[ja]

被引:0
申请号
JP20230031156
申请日
2023-03-01
公开(公告)号
JP2024123597A
公开(公告)日
2024-09-12
发明(设计)人
BIZEN DAISUKE KASUYA KEIGO
申请人
HITACHI LTD
申请人地址
IPC主分类号
H01J37/22
IPC分类号
H01J37/28 H01L21/66
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
電気抵抗測定装置及び電気抵抗測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6600549B2 ,2019-10-30
[2]
荷電粒子測定装置及び荷電粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6591309B2 ,2019-10-16
[3]
試料帯電測定方法及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2003007330A1 ,2004-11-04
[4]
試料電位測定方法、及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011007517A1 ,2012-12-20
[5]
電気抵抗の測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5641305B2 ,2014-12-17
[6]
[8]
荷電粒子装置および測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6595856B2 ,2019-10-23