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パターン測定方法、荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140558582
申请日
:
2014-01-22
公开(公告)号
:
JPWO2014115740A1
公开(公告)日
:
2017-01-26
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B15/04
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
パターン測定方法、荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6069367B2
,2017-02-01
[2]
パターン寸法測定方法、及び荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5686627B2
,2015-03-18
[3]
荷電粒子装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6595856B2
,2019-10-23
[4]
荷電粒子測定装置及び荷電粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6591309B2
,2019-10-16
[5]
荷電粒子線装置及び電気抵抗測定方法[ja]
[P].
BIZEN DAISUKE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI LTD
HITACHI LTD
BIZEN DAISUKE
;
KASUYA KEIGO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI LTD
HITACHI LTD
KASUYA KEIGO
.
日本专利
:JP2024123597A
,2024-09-12
[6]
試料の寸法測定方法、および荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5970229B2
,2016-08-17
[7]
試料帯電測定方法及び荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2003007330A1
,2004-11-04
[8]
試料電位測定方法、及び荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011007517A1
,2012-12-20
[9]
高さ測定装置、荷電粒子線装置、および高さ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7083856B2
,2022-06-13
[10]
異物高さの測定方法及び荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7604684B2
,2024-12-23
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