パターン測定方法、荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置[ja]

被引:0
申请号
JP20140558582
申请日
2014-01-22
公开(公告)号
JPWO2014115740A1
公开(公告)日
2017-01-26
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01B15/04
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[2]
パターン寸法測定方法、及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5686627B2 ,2015-03-18
[3]
荷電粒子装置および測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6595856B2 ,2019-10-23
[4]
荷電粒子測定装置及び荷電粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6591309B2 ,2019-10-16
[5]
荷電粒子線装置及び電気抵抗測定方法[ja] [P]. 
BIZEN DAISUKE ;
KASUYA KEIGO .
日本专利 :JP2024123597A ,2024-09-12
[6]
試料の寸法測定方法、および荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5970229B2 ,2016-08-17
[7]
試料帯電測定方法及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2003007330A1 ,2004-11-04
[8]
試料電位測定方法、及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011007517A1 ,2012-12-20
[10]
異物高さの測定方法及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7604684B2 ,2024-12-23