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試料の寸法測定方法、および荷電粒子線装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20120100535
申请日
:
2012-04-26
公开(公告)号
:
JP5970229B2
公开(公告)日
:
2016-08-17
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J37/21
IPC分类号
:
G01B15/00
H01J37/28
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
試料帯電測定方法及び荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2003007330A1
,2004-11-04
[2]
試料電位測定方法、及び荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011007517A1
,2012-12-20
[3]
試料の検査,測定方法、及び荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5810181B2
,2015-11-11
[4]
荷電粒子装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6595856B2
,2019-10-23
[5]
寸法測定装置および寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016199366A1
,2018-04-05
[6]
パターン測定方法、荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014115740A1
,2017-01-26
[7]
パターン測定方法、荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6069367B2
,2017-02-01
[8]
パターン寸法測定方法、及び荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5686627B2
,2015-03-18
[9]
試料測定装置および試料測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6572726B2
,2019-09-11
[10]
試料測定装置および試料測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7087916B2
,2022-06-21
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