試料の寸法測定方法、および荷電粒子線装置[ja]

被引:0
申请号
JP20120100535
申请日
2012-04-26
公开(公告)号
JP5970229B2
公开(公告)日
2016-08-17
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01J37/21
IPC分类号
G01B15/00 H01J37/28
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
試料帯電測定方法及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2003007330A1 ,2004-11-04
[2]
試料電位測定方法、及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011007517A1 ,2012-12-20
[3]
試料の検査,測定方法、及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5810181B2 ,2015-11-11
[4]
荷電粒子装置および測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6595856B2 ,2019-10-23
[5]
寸法測定装置および寸法測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2016199366A1 ,2018-04-05
[8]
パターン寸法測定方法、及び荷電粒子線装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5686627B2 ,2015-03-18
[9]
試料測定装置および試料測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6572726B2 ,2019-09-11
[10]
試料測定装置および試料測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7087916B2 ,2022-06-21