二次粒子像から分析画像を擬似的に作成する荷電粒子線装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20160571906

申请日：

2016-01-12

公开(公告)号：

JPWO2016121471A1

公开(公告)日：

2017-11-30

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

H01J37/22

IPC分类号：

G01N23/225 H01J37/244 H01J37/252 H01J37/28 H01J37/317

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共 10 条

[1]

質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja] [P].

日本专利 :JP2019505965A ,2019-02-28

[2]

質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja] [P].

日本专利 :JP7123397B2 ,2022-08-23

[3]

質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja] [P].

日本专利 :JP2019509585A ,2019-04-04

[4]

質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja] [P].

日本专利 :JP6958918B2 ,2021-11-02

[5]

荷電粒子ビーム強度分布可変装置、荷電粒子ビーム強度分布可変方法、二次粒子生成装置、及び放射性同位体生成装置[ja] [P].

日本专利 :JP7181524B2 ,2022-12-01

[6]

セパレータ、その製造方法及びそれに関連する二次電池ならびに電力消費装置[ja] [P].

日本专利 :JP2025517447A ,2025-06-05

[7]

二次電池、その製造方法、それに関連する電池モジュール、電池パック及び装置[ja] [P].

日本专利 :JP2023511881A ,2023-03-23

[8]

屈曲構造及び／又は分岐構造を持つシリカ二次粒子を含有するコロイダルシリカ及びその製造方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2010035613A1 ,2012-02-23

[9]

屈曲構造及び／又は分岐構造を持つシリカ二次粒子を含有するコロイダルシリカ及びその製造方法[ja] [P].

日本专利 :JP5808106B2 ,2015-11-10

[10]

プルシアンブルー系遷移金属シアン化物、その製造方法、及び関連する正極板、二次電池、電池モジュール、電池パック並びに装置[ja] [P].

日本专利 :JP2023519589A ,2023-05-11