共 40 条
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質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
被引：0
申请号：
JP20180537627
申请日：
2017-02-17
公开(公告)号：
JP2019509585A
公开(公告)日：
2019-04-04
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
H01J49/22
IPC分类号：
H01J37/04
H01J37/05
H01J49/42
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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