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荷電粒子線治療検証システム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20210560559
申请日
:
2020-04-08
公开(公告)号
:
JP2022528967A
公开(公告)日
:
2022-06-16
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
A61N5/10
IPC分类号
:
G01T1/203
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 35 条
[1]
荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017221362A1
,2019-04-11
[2]
荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013150847A1
,2015-12-17
[3]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP2019509585A
,2019-04-04
[4]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP6958918B2
,2021-11-02
[5]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP7123397B2
,2022-08-23
[6]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP2019505965A
,2019-02-28
[7]
荷電粒子光学デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP2024501654A
,2024-01-15
[8]
二次粒子像から分析画像を擬似的に作成する荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016121471A1
,2017-11-30
[9]
荷電粒子ビーム強度分布可変装置、荷電粒子ビーム強度分布可変方法、二次粒子生成装置、及び放射性同位体生成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7181524B2
,2022-12-01
[10]
微細水酸化マグネシウム粒子[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013122239A1
,2015-05-18
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