学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
荷電粒子線装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140509083
申请日
:
2013-03-04
公开(公告)号
:
JPWO2013150847A1
公开(公告)日
:
2015-12-17
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J37/28
IPC分类号
:
H01J37/22
H01J37/244
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017221362A1
,2019-04-11
[2]
荷電粒子線治療検証システム[ja]
[P].
日本专利
:JP2022528967A
,2022-06-16
[3]
荷電粒子光学デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP2024501654A
,2024-01-15
[4]
二次粒子像から分析画像を擬似的に作成する荷電粒子線装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016121471A1
,2017-11-30
[5]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP7123397B2
,2022-08-23
[6]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP2019505965A
,2019-02-28
[7]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP2019509585A
,2019-04-04
[8]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP6958918B2
,2021-11-02
[9]
荷電粒子ビーム強度分布可変装置、荷電粒子ビーム強度分布可変方法、二次粒子生成装置、及び放射性同位体生成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7181524B2
,2022-12-01
[10]
絶縁電線及びその製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7165288B1
,2022-11-02
←
1
2
3
4
5
→